During the experimental test of the VDCS, high frequency interference, MOSFET protection and predrive circuit design were the key issues.
在多功能驱动电路系统实验调试中，重点讨论了高频干扰问题、MOS管的高压保
驱动电路设计。
diào shì gōng néng
- debugging facility
- debug function
声
：
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在多功能驱动电路
实验调试中，重点讨论了高频干扰问题、MOS管的高压保护和预驱动电路设计。
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在多功能驱动电路系统实验调试中，重点讨论了高频干扰问题、MOS管的高压保护和预驱动电路设计。
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功能驱动电路系统实验调试中，重点讨论了高频干扰问题、MOS管的高压保护和预驱动电路设计。
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频干扰问题、MOS管的
护和预驱动电路设计。
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在多功能驱动电路系统
试中，重点讨论了高频干扰问题、MOS管的高压保护和预驱动电路设计。
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